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Experimental technique for the performance evaluation and optimization of 1/f noise spectrum investigation in electron devices
2017 Magnone, P.; Traverso, P.A.; Fiegna, C.
TCAD simulation of hot-carrier stress degradation in split-gate n-channel STI-LDMOS transistors
2020 Giuliano F.; Magnone P.; Pistollato S.; Tallarico A.N.; Reggiani S.; Fiegna C.; Depetro R.; Rossetti M.; Croce G.
Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File |
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Experimental technique for the performance evaluation and optimization of 1/f noise spectrum investigation in electron devices | Magnone, P.; Traverso, P.A.; Fiegna, C. | 2017-01-01 | MEASUREMENT | - | 1.01 Articolo in rivista | - |
TCAD simulation of hot-carrier stress degradation in split-gate n-channel STI-LDMOS transistors | Giuliano F.; Magnone P.; Pistollato S.; Tallarico A.N.; Reggiani S.; Fiegna C.; Depetro R.; Rosse...tti M.; Croce G. | 2020-01-01 | MICROELECTRONICS RELIABILITY | - | 1.01 Articolo in rivista | TCAD simulation POST PRINT.pdf |
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