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EnglishElectrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications / M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno BIAMS 2016 - Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors tenutosi a Versailles, Francia nel 5-9 giugno 2016.
| Titolo: | Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications |
| Autore/i: | FAZIO, MARIA ANTONIETTA; PERANI, MARTINA; N. Brinkmann; B. Terheiden; CAVALCOLI, DANIELA |
| Autore/i Unibo: | |
| Anno: | 2016 |
| Titolo del libro: | Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications |
| Pagina iniziale: | 1 |
| Pagina finale: | 1 |
| Data stato definitivo: | 26-mag-2017 |
| Appare nelle tipologie: | 4.02 Riassunto (Abstract) |
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