Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications / M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno BIAMS 2016 - Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors tenutosi a Versailles, Francia nel 5-9 giugno 2016.
Titolo: | Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications | |
Autore/i: | FAZIO, MARIA ANTONIETTA; PERANI, MARTINA; N. Brinkmann; B. Terheiden; CAVALCOLI, DANIELA | |
Autore/i Unibo: | ||
Anno: | 2016 | |
Titolo del libro: | Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications | |
Pagina iniziale: | 1 | |
Pagina finale: | 1 | |
Data stato definitivo: | 26-mag-2017 | |
Appare nelle tipologie: | 4.02 Riassunto (Abstract) |
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