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M.A. Fazio, M. Perani, N. Brinkmann, B. Terheiden, D. Cavalcoli (2016). Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications.

Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications

FAZIO, MARIA ANTONIETTA;PERANI, MARTINA;CAVALCOLI, DANIELA
2016
2016
Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications
1
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M.A. Fazio, M. Perani, N. Brinkmann, B. Terheiden, D. Cavalcoli (2016). Electrical characterization at the nanoscale of Si-based thin films for photovoltaic applications.
M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/591954
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