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Characterization of electrical nanoscale properties of Si-based thin films for photovoltaic applications / M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno StSPM’16 - Science through Scanning Probe Microscopy tenutosi a Bologna, Italia nel 20-21 ottobre 2016).

Characterization of electrical nanoscale properties of Si-based thin films for photovoltaic applications

FAZIO, MARIA ANTONIETTA;PERANI, MARTINA;CAVALCOLI, DANIELA
2016
2016
StSPM’16 - Science through Scanning Probe Microscopy
1
1
Characterization of electrical nanoscale properties of Si-based thin films for photovoltaic applications / M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno StSPM’16 - Science through Scanning Probe Microscopy tenutosi a Bologna, Italia nel 20-21 ottobre 2016).
M.A. Fazio; M. Perani; N. Brinkmann; B. Terheiden; D. Cavalcoli
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/587741
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