La presente descrizione si riferisce a un dispositivo campione di riferimento per la calibrazione di misure di lunghezza, comprendente un substrato comprendente una superficie presentante almeno un pattern di calibrazione. L’invenzione è stata sviluppata portando particolare attenzione alla possibile applicazione della stessa in tecniche di misura microscopiche quali AFM (Atomic Force Microscope) o TERS (Tip Enhanced Raman Spettroscopy).
DISPOSITIVO CAMPIONE DI RIFERIMENTO PER LA CALIBRAZIONE DI MISURE DI LUNGHEZZA E RELATIVO PROCEDIMENTO DI CALIBRAZIONE / Luca, Boarino; Federico, Ferrarese Lupi; Giulia, Aprile; Natascia, De Leo; Michele, Perego; Michele, Laus; Giampaolo, Zuccheri. - (2016).
DISPOSITIVO CAMPIONE DI RIFERIMENTO PER LA CALIBRAZIONE DI MISURE DI LUNGHEZZA E RELATIVO PROCEDIMENTO DI CALIBRAZIONE
ZUCCHERI, GIAMPAOLO
2016
Abstract
La presente descrizione si riferisce a un dispositivo campione di riferimento per la calibrazione di misure di lunghezza, comprendente un substrato comprendente una superficie presentante almeno un pattern di calibrazione. L’invenzione è stata sviluppata portando particolare attenzione alla possibile applicazione della stessa in tecniche di misura microscopiche quali AFM (Atomic Force Microscope) o TERS (Tip Enhanced Raman Spettroscopy).I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
