High frequency electromagnetic field exposure affects maturation and vulnerability to oxidative stress of a cholinergic cell line / Giuliani A.; Pirondi S.; Mesirca P.; Del vecchio G.; Sivilia S.; Giardino L.; Ardoino L.; Pinto R.; Bersani F.; Calzà L.. - ELETTRONICO. - (2005), p. P56. (Intervento presentato al convegno National congress of the Italian Society for Neuroscience and Joint Italian-Swedish Neuroscience Meeting tenutosi a Ischia nel 1-4 October 2005).

High frequency electromagnetic field exposure affects maturation and vulnerability to oxidative stress of a cholinergic cell line.

PIRONDI, STEFANIA;SIVILIA, SANDRA;GIARDINO, LUCIANA;CALZA', LAURA
2005

2005
National congress of the Italian Society for Neuroscience and Joint Italian-Swedish Neuroscience Meeting
P56
High frequency electromagnetic field exposure affects maturation and vulnerability to oxidative stress of a cholinergic cell line / Giuliani A.; Pirondi S.; Mesirca P.; Del vecchio G.; Sivilia S.; Giardino L.; Ardoino L.; Pinto R.; Bersani F.; Calzà L.. - ELETTRONICO. - (2005), p. P56. (Intervento presentato al convegno National congress of the Italian Society for Neuroscience and Joint Italian-Swedish Neuroscience Meeting tenutosi a Ischia nel 1-4 October 2005).
Giuliani A.; Pirondi S.; Mesirca P.; Del vecchio G.; Sivilia S.; Giardino L.; Ardoino L.; Pinto R.; Bersani F.; Calzà L.
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