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EnglishHigh frequency electromagnetic field exposure affects maturation and vulnerability to oxidative stress of a cholinergic cell line / Giuliani A.; Pirondi S.; Mesirca P.; Del vecchio G.; Sivilia S.; Giardino L.; Ardoino L.; Pinto R.; Bersani F.; Calzà L.. - ELETTRONICO. - (2005), p. P56. ((Intervento presentato al convegno National congress of the Italian Society for Neuroscience and Joint Italian-Swedish Neuroscience Meeting tenutosi a Ischia nel 1-4 October 2005.
| Titolo: | High frequency electromagnetic field exposure affects maturation and vulnerability to oxidative stress of a cholinergic cell line. |
| Autore/i: | Giuliani A.; PIRONDI, STEFANIA; Mesirca P.; Del vecchio G.; SIVILIA, SANDRA; GIARDINO, LUCIANA; Ardoino L.; Pinto R.; Bersani F.; CALZA', LAURA |
| Autore/i Unibo: | |
| Anno: | 2005 |
| Titolo del libro: | National congress of the Italian Society for Neuroscience and Joint Italian-Swedish Neuroscience Meeting |
| Pagina iniziale: | P56 |
| Data prodotto definitivo in UGOV: | 28-feb-2007 |
| Appare nelle tipologie: | 4.02 Riassunto (Abstract) |
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