L'oggetto del brevetto è un circuito e un metodo per collaudare in modalità non a contatto circuiti e dispositivi integrati su fetta di silicio.

R. Canegallo, M. Scandiuzzo, R. Cardu, E. Franchi Scarselli, A. Pagani (2013). Active Probe card for electrical wafer sort of integrated circuits.

Active Probe card for electrical wafer sort of integrated circuits

FRANCHI SCARSELLI, ELEONORA;
2013

Abstract

L'oggetto del brevetto è un circuito e un metodo per collaudare in modalità non a contatto circuiti e dispositivi integrati su fetta di silicio.
2013
US 2013027071
R. Canegallo, M. Scandiuzzo, R. Cardu, E. Franchi Scarselli, A. Pagani (2013). Active Probe card for electrical wafer sort of integrated circuits.
R. Canegallo; M. Scandiuzzo; R. Cardu; E. Franchi Scarselli; A. Pagani
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