CRIS Current Research Information System

A. Miceli, M. Bettuzzi, A. Flisch, R. Thierry, J. Hofmann, U. Sennhauser, et al. (2006). Comparison of simulated and measured X-ray spectra of an industrial 450 kV X-ray source. s.l : s.n.

Comparison of simulated and measured X-ray spectra of an industrial 450 kV X-ray source

MICELI, ALICE;BETTUZZI, MATTEO;CASALI, FRANCO
2006
2006
10th International Symposium on Radiation Physics - Book of abstracts
H-26
H-26
A. Miceli, M. Bettuzzi, A. Flisch, R. Thierry, J. Hofmann, U. Sennhauser, et al. (2006). Comparison of simulated and measured X-ray spectra of an industrial 450 kV X-ray source. s.l : s.n.
A. Miceli; M. Bettuzzi; A. Flisch; R. Thierry; J. Hofmann; U. Sennhauser; F. Casali
4.02 Riassunto (Abstract)
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