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A. Armigliato, R. Balboni, R.Rosa (2005). Quantitative thin film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination.. s.l : s.n.

Quantitative thin film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination.

ROSA, RODOLFO
2005
2005
Atti di EMAS-IUMAS conference: modern developments and applications in microbeam analysis.
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A. Armigliato, R. Balboni, R.Rosa (2005). Quantitative thin film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination.. s.l : s.n.
A. Armigliato; R. Balboni; R.Rosa
4.02 Riassunto (Abstract)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/19308
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