Quantitative thin film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination / A. Armigliato; R. Balboni; R.Rosa. - STAMPA. - (2005), pp. .-.. (Intervento presentato al convegno EMAS-IUMAS conference tenutosi a Firenze nel 22-26 Maggio 2005).
Quantitative thin film X-ray microanalysis by STEM/HAADF: Statistical analysis for precision and accuracy determination.
ROSA, RODOLFO
2005
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