DI STASI, SIMONE
DI STASI, SIMONE
ARCES - CENTRO DI RICERCA SUI SISTEMI ELETTRONICI PER L'INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE E DELLE TELECOMUNICAZIONI "ERCOLE DE CASTRO" - (ADVANCED RESEARCH CENTER ON ELECTRONIC SYSTEM)
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| Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File |
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| Impact of interface traps on the subthreshold performance of InGaAs nanosheet transistors | Balestra, L.; Di Stasi, S.; Gnani, E.; Reggiani, S.; Chen, M. -Y.; Iwai, H.; Chang, E. Y. | 2026-01-01 | SOLID-STATE ELECTRONICS | - | 1.01 Articolo in rivista | - |