Incidenti tecnologici causati da eventi sismici costituiscono una tipologia specifica di eventi NaTech, in cui non si ha una semplice coesistenza di rischi di diversa natura che devono essere ricomposti, ma l’interazione di eventi pericolosi e la concatenazione di danni che genera una tipologia di rischio integrato da affrontare con strumenti specifici. Infatti, quando differenti tipi di rischio coesistono possono generarsi eventi interagenti che provocano danni ancora più severi di quelli che si possono manifestare in caso di singoli eventi. In questo contributo viene presentata una procedura semplificata di screening sviluppata utilizzando una metodologia di analisi decisionale multi-criterio (AHP, Analytic Hierarchy Process). La metodologia è stata utilizzata per supportare i processi decisionali tramite la definizione di possibili alternative d’intervento all’interno di un framework di multi-criteri pesati.

Approccio semplificato al problema NaTech generato da sismi

ANTONIONI, GIACOMO;BONVICINI, SARAH;COZZANI, VALERIO
2009

Abstract

Incidenti tecnologici causati da eventi sismici costituiscono una tipologia specifica di eventi NaTech, in cui non si ha una semplice coesistenza di rischi di diversa natura che devono essere ricomposti, ma l’interazione di eventi pericolosi e la concatenazione di danni che genera una tipologia di rischio integrato da affrontare con strumenti specifici. Infatti, quando differenti tipi di rischio coesistono possono generarsi eventi interagenti che provocano danni ancora più severi di quelli che si possono manifestare in caso di singoli eventi. In questo contributo viene presentata una procedura semplificata di screening sviluppata utilizzando una metodologia di analisi decisionale multi-criterio (AHP, Analytic Hierarchy Process). La metodologia è stata utilizzata per supportare i processi decisionali tramite la definizione di possibili alternative d’intervento all’interno di un framework di multi-criteri pesati.
2009
L’Ingegneria Sismica in Italia
1
8
V. Busini; S. Caragliano; R. Rota; G. Antonioni; S. Bonvicini; V. Cozzani
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