Energy resolution and linearity of XENON1T in the MeV energy range

Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; M. Weiss, Xu; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.

doi:10.1140/epjc/s10052-020-8284-0

Xenon dual-phase time projection chambers de- signed to search for Weakly Interacting Massive Particles have so far shown a relative energy resolution which de- grades with energy above ∼200 keV due to the saturation effects. This has limited their sensitivity in the search for rare events like the neutrinoless double-beta decay of 136Xe at its Q-value, Qββ ≃ 2.46MeV. For the XENON1T dual- phase time projection chamber, we demonstrate that the rel- ative energy resolution at 1 σ /μ is as low as (0.80±0.02) % in its one-ton fiducial mass, and for single-site interactions at Qβ β . We also present a new signal correction method to rectify the saturation effects of the signal readout system, resulting in more accurate position reconstruction and indi- rectly improving the energy resolution. The very good re- sult achieved in XENON1T opens up new windows for the xenon dual-phase dark matter detectors to simultaneously search for other rare events.

Energy resolution and linearity of XENON1T in the MeV energy range / Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Xu, M. Weiss; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - ELETTRONICO. - 80:8(2020), pp. 785.1-785.9. [10.1140/epjc/s10052-020-8284-0]