Fault Diagnosis and Test of DNA Sensor Arrays by Using the IFA Approach / D. De Venuto; B. Riccò. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - STAMPA. - 40:(2009), pp. 1293-1298. [10.1016/j.mejo.2008.01.002]
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.