We report on the response of liquid xenon to low energy electronic recoils below 15 keV from beta decays of tritium at drift fields of 92 V/cm, 154 V/cm and 366 V/cm using the XENON100 detector. A data-to-simulation fitting method based on Markov Chain Monte Carlo is used to extract the photon yields and recombination fluctuations from the experimental data. The photon yields measured at the two lower fields are in agreement with those from literature; additional measurements at a higher field of 366 V/cm are presented. The electronic and nuclear recoil discrimination as well as its dependence on the drift field and photon detection efficiency are investigated at these low energies. The results provide new measurements in the energy region of interest for dark matter searches using liquid xenon.

Signal yields of keV electronic recoils and their discrimination from nuclear recoils in liquid xenon / Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Amaro, F.D.; Anthony, M.; Arneodo, F.; Barrow, P.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M.L.; Berger, T.; Breur, P.A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bütikofer, L.; Calvén, J.; Cardoso, J.M.R.; Cervantes, M.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A.P.; Conrad, J.; Cussonneau, J.P.; Decowski, M.P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A.D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Geis, C.; Goetzke, L.W.; Grandi, L.; Greene, Z.; Grignon, C.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Itay, R.; Kaminsky, B.; Kazama, S.; Kessler, G.; Kish, A.; Landsman, H.; Lang, R.F.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J.A.M.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Maris, I.; Marrodán Undagoitia, T.; Masbou, J.; Massoli, F.V.; Masson, D.; Mayani, D.; Messina, M.; Micheneau, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Pakarha, P.; Pelssers, B.; Persiani, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Piro, M.-C.; Plante, G.; Priel, N.; Ramírez García, D.; Rauch, L.; Reichard, S.; Reuter, C.; Rizzo, A.; Rupp, N.; Saldanha, R.; Dos Santos, J.M.F.; Sartorelli, G.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Sivers, M.V.; Stein, A.; Thers, D.; Tiseni, A.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - ELETTRONICO. - 97:9(2018), pp. 092007.1-092007.11. [10.1103/PhysRevD.97.092007]

Signal yields of keV electronic recoils and their discrimination from nuclear recoils in liquid xenon

AGOSTINI, FEDERICA
Membro del Collaboration Group
;
Di Gangi, P.
Software
;
Garbini, M.
Membro del Collaboration Group
;
Sartorelli, G.
Funding Acquisition
;
Selvi, M.
Supervision
;
2018

Abstract

We report on the response of liquid xenon to low energy electronic recoils below 15 keV from beta decays of tritium at drift fields of 92 V/cm, 154 V/cm and 366 V/cm using the XENON100 detector. A data-to-simulation fitting method based on Markov Chain Monte Carlo is used to extract the photon yields and recombination fluctuations from the experimental data. The photon yields measured at the two lower fields are in agreement with those from literature; additional measurements at a higher field of 366 V/cm are presented. The electronic and nuclear recoil discrimination as well as its dependence on the drift field and photon detection efficiency are investigated at these low energies. The results provide new measurements in the energy region of interest for dark matter searches using liquid xenon.
2018
Signal yields of keV electronic recoils and their discrimination from nuclear recoils in liquid xenon / Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Amaro, F.D.; Anthony, M.; Arneodo, F.; Barrow, P.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M.L.; Berger, T.; Breur, P.A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bütikofer, L.; Calvén, J.; Cardoso, J.M.R.; Cervantes, M.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A.P.; Conrad, J.; Cussonneau, J.P.; Decowski, M.P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A.D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Geis, C.; Goetzke, L.W.; Grandi, L.; Greene, Z.; Grignon, C.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Itay, R.; Kaminsky, B.; Kazama, S.; Kessler, G.; Kish, A.; Landsman, H.; Lang, R.F.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J.A.M.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Maris, I.; Marrodán Undagoitia, T.; Masbou, J.; Massoli, F.V.; Masson, D.; Mayani, D.; Messina, M.; Micheneau, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Pakarha, P.; Pelssers, B.; Persiani, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Piro, M.-C.; Plante, G.; Priel, N.; Ramírez García, D.; Rauch, L.; Reichard, S.; Reuter, C.; Rizzo, A.; Rupp, N.; Saldanha, R.; Dos Santos, J.M.F.; Sartorelli, G.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Sivers, M.V.; Stein, A.; Thers, D.; Tiseni, A.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - ELETTRONICO. - 97:9(2018), pp. 092007.1-092007.11. [10.1103/PhysRevD.97.092007]
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Amaro, F.D.; Anthony, M.; Arneodo, F.; Barrow, P.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M.L.; Berger, T.; Breur, P.A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bütikofer, L.; Calvén, J.; Cardoso, J.M.R.; Cervantes, M.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A.P.; Conrad, J.; Cussonneau, J.P.; Decowski, M.P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A.D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Geis, C.; Goetzke, L.W.; Grandi, L.; Greene, Z.; Grignon, C.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Itay, R.; Kaminsky, B.; Kazama, S.; Kessler, G.; Kish, A.; Landsman, H.; Lang, R.F.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J.A.M.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Maris, I.; Marrodán Undagoitia, T.; Masbou, J.; Massoli, F.V.; Masson, D.; Mayani, D.; Messina, M.; Micheneau, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Pakarha, P.; Pelssers, B.; Persiani, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Piro, M.-C.; Plante, G.; Priel, N.; Ramírez García, D.; Rauch, L.; Reichard, S.; Reuter, C.; Rizzo, A.; Rupp, N.; Saldanha, R.; Dos Santos, J.M.F.; Sartorelli, G.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Sivers, M.V.; Stein, A.; Thers, D.; Tiseni, A.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.
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