We report on the observation of new properties of secondary cosmic rays Li, Be, and B measured in the rigidity (momentum per unit charge) range 1.9 GV to 3.3 TV with a total of 5.4×106 nuclei collected by AMS during the first five years of operation aboard the International Space Station. The Li and B fluxes have an identical rigidity dependence above 7 GV and all three fluxes have an identical rigidity dependence above 30 GV with the Li/Be flux ratio of 2.0±0.1. The three fluxes deviate from a single power law above 200 GV in an identical way. This behavior of secondary cosmic rays has also been observed in the AMS measurement of primary cosmic rays He, C, and O but the rigidity dependences of primary cosmic rays and of secondary cosmic rays are distinctly different. In particular, above 200 GV, the secondary cosmic rays harden more than the primary cosmic rays.

Observation of New Properties of Secondary Cosmic Rays Lithium, Beryllium, and Boron by the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station / Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Aupetit, S.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başeǧmez-Du Pree, S.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindel, K.F.; Bindi, V.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Boschini, M.J.; Bourquin, M.; Bueno, E.F.; Burger, J.; Burger, W.J.; Cadoux, F.; Cai, X.D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chae, M.J.; Chang, Y.H.; Chen, A.I.; Chen, G.M.; Chen, H.S.; Cheng, L.; Chou, H.Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C.H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Creus, W.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y.M.; Datta, A.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M.B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García-López, R.J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D.M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K.H.; Haino, S.; Han, K.C.; He, Z.H.; Heil, M.; Hsieh, T.H.; Huang, H.; Huang, Z.C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W.Y.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kang, S.C.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kim, G.N.; Kim, K.S.; Kirn, Th.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H.T.; Lee, S.C.; Leluc, C.; Li, H.S.; Li, J.Q.; Li, Q.; Li, T.X.; Li, Y.; Li, Z.H.; Li, Z.Y.; Lim, S.; Lin, C.H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, Hu; Lordello, V.D.; Lu, S.Q.; Lu, Y.S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J.Z.; Lyu, S.S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mikuni, V.M.; Mo, D.C.; Mott, P.; Nelson, T.; Ni, J.Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrina, C.; Phan, H.D.; Picot-Clemente, N.; Pilo, F.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Quadrani, L.; Qi, X.M.; Qin, X.; Qu, Z.Y.; Räihä, T.; Rancoita, P.G.; Rapin, D.; Ricol, J.S.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Schael, S.; Schmidt, S.M.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E.S.; Shan, B.S.; Shi, J.Y.; Siedenburg, T.; Son, D.; Song, J.W.; Tacconi, M.; Tang, X.W.; Tang, Z.C.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S.M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoǧlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J.P.; Vitale, V.; Wang, L.Q.; Wang, N.H.; Wang, Q.L.; Wang, X.; Wang, X.Q.; Wang, Z.X.; Wei, C.C.; Weng, Z.L.; Whitman, K.; Wu, H.; Wu, X.; Xiong, R.Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y.J.; Yu, Z.Q.; Zannoni, M.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, J.; Zhang, J.H.; Zhang, S.W.; Zhang, Z.; Zheng, Z.M.; Zhuang, H.L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - STAMPA. - 120:2(2018), pp. 021101.0211011-021101.0211018. [10.1103/PhysRevLett.120.021101]

Observation of New Properties of Secondary Cosmic Rays Lithium, Beryllium, and Boron by the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station

Contin, A.;Masi, N.;Quadrani, L.;Zichichi, A.;
2018

Abstract

We report on the observation of new properties of secondary cosmic rays Li, Be, and B measured in the rigidity (momentum per unit charge) range 1.9 GV to 3.3 TV with a total of 5.4×106 nuclei collected by AMS during the first five years of operation aboard the International Space Station. The Li and B fluxes have an identical rigidity dependence above 7 GV and all three fluxes have an identical rigidity dependence above 30 GV with the Li/Be flux ratio of 2.0±0.1. The three fluxes deviate from a single power law above 200 GV in an identical way. This behavior of secondary cosmic rays has also been observed in the AMS measurement of primary cosmic rays He, C, and O but the rigidity dependences of primary cosmic rays and of secondary cosmic rays are distinctly different. In particular, above 200 GV, the secondary cosmic rays harden more than the primary cosmic rays.
2018
Observation of New Properties of Secondary Cosmic Rays Lithium, Beryllium, and Boron by the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station / Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Aupetit, S.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başeǧmez-Du Pree, S.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindel, K.F.; Bindi, V.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Boschini, M.J.; Bourquin, M.; Bueno, E.F.; Burger, J.; Burger, W.J.; Cadoux, F.; Cai, X.D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chae, M.J.; Chang, Y.H.; Chen, A.I.; Chen, G.M.; Chen, H.S.; Cheng, L.; Chou, H.Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C.H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Creus, W.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y.M.; Datta, A.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M.B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García-López, R.J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D.M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K.H.; Haino, S.; Han, K.C.; He, Z.H.; Heil, M.; Hsieh, T.H.; Huang, H.; Huang, Z.C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W.Y.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kang, S.C.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kim, G.N.; Kim, K.S.; Kirn, Th.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H.T.; Lee, S.C.; Leluc, C.; Li, H.S.; Li, J.Q.; Li, Q.; Li, T.X.; Li, Y.; Li, Z.H.; Li, Z.Y.; Lim, S.; Lin, C.H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, Hu; Lordello, V.D.; Lu, S.Q.; Lu, Y.S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J.Z.; Lyu, S.S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mikuni, V.M.; Mo, D.C.; Mott, P.; Nelson, T.; Ni, J.Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrina, C.; Phan, H.D.; Picot-Clemente, N.; Pilo, F.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Quadrani, L.; Qi, X.M.; Qin, X.; Qu, Z.Y.; Räihä, T.; Rancoita, P.G.; Rapin, D.; Ricol, J.S.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Schael, S.; Schmidt, S.M.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E.S.; Shan, B.S.; Shi, J.Y.; Siedenburg, T.; Son, D.; Song, J.W.; Tacconi, M.; Tang, X.W.; Tang, Z.C.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S.M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoǧlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J.P.; Vitale, V.; Wang, L.Q.; Wang, N.H.; Wang, Q.L.; Wang, X.; Wang, X.Q.; Wang, Z.X.; Wei, C.C.; Weng, Z.L.; Whitman, K.; Wu, H.; Wu, X.; Xiong, R.Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y.J.; Yu, Z.Q.; Zannoni, M.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, J.; Zhang, J.H.; Zhang, S.W.; Zhang, Z.; Zheng, Z.M.; Zhuang, H.L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - STAMPA. - 120:2(2018), pp. 021101.0211011-021101.0211018. [10.1103/PhysRevLett.120.021101]
Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Aupetit, S.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başeǧmez-Du Pree, S.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindel, K.F.; Bindi, V.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Boschini, M.J.; Bourquin, M.; Bueno, E.F.; Burger, J.; Burger, W.J.; Cadoux, F.; Cai, X.D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chae, M.J.; Chang, Y.H.; Chen, A.I.; Chen, G.M.; Chen, H.S.; Cheng, L.; Chou, H.Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C.H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Creus, W.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y.M.; Datta, A.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M.B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García-López, R.J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D.M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K.H.; Haino, S.; Han, K.C.; He, Z.H.; Heil, M.; Hsieh, T.H.; Huang, H.; Huang, Z.C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W.Y.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kang, S.C.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kim, G.N.; Kim, K.S.; Kirn, Th.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H.T.; Lee, S.C.; Leluc, C.; Li, H.S.; Li, J.Q.; Li, Q.; Li, T.X.; Li, Y.; Li, Z.H.; Li, Z.Y.; Lim, S.; Lin, C.H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, Hu; Lordello, V.D.; Lu, S.Q.; Lu, Y.S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J.Z.; Lyu, S.S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mikuni, V.M.; Mo, D.C.; Mott, P.; Nelson, T.; Ni, J.Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrina, C.; Phan, H.D.; Picot-Clemente, N.; Pilo, F.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Quadrani, L.; Qi, X.M.; Qin, X.; Qu, Z.Y.; Räihä, T.; Rancoita, P.G.; Rapin, D.; Ricol, J.S.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Schael, S.; Schmidt, S.M.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E.S.; Shan, B.S.; Shi, J.Y.; Siedenburg, T.; Son, D.; Song, J.W.; Tacconi, M.; Tang, X.W.; Tang, Z.C.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S.M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoǧlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J.P.; Vitale, V.; Wang, L.Q.; Wang, N.H.; Wang, Q.L.; Wang, X.; Wang, X.Q.; Wang, Z.X.; Wei, C.C.; Weng, Z.L.; Whitman, K.; Wu, H.; Wu, X.; Xiong, R.Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y.J.; Yu, Z.Q.; Zannoni, M.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, J.; Zhang, J.H.; Zhang, S.W.; Zhang, Z.; Zheng, Z.M.; Zhuang, H.L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/621386
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? 7
  • Scopus 220
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 189
social impact