A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based LEDs / M. Meneghini; L. Rigutti; L.R. Trevisanello; A. Cavallini; G. Meneghesso; E. Zanoni. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 103:(2008), pp. 063703-063710. [10.1063/1.2885703]
A model for the thermal degradation of metal/(p-GaN) interface in GaN-based LEDs
RIGUTTI, LORENZO;CAVALLINI, ANNA;
2008
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