Thermal characterization of nonlinear charge trapping effects in GaN-FETs / Gibiino, Gian Piero; Cignani, Rafael; Niessen, Daniel; Schreurs, Dominique; Santarelli, Alberto; Filicori, Fabio. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 6815103.1-6815103.3. (Intervento presentato al convegno 2014 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMiC 2014 tenutosi a Leuven, bel nel 2014) [10.1109/INMMIC.2014.6815103].
Thermal characterization of nonlinear charge trapping effects in GaN-FETs
GIBIINO, GIAN PIERO;CIGNANI, RAFAEL;NIESSEN, DANIEL;SANTARELLI, ALBERTO;FILICORI, FABIO
2014
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.