Pubblicazione eletrtronica che da accesso ai dati già esposti in Le Fevre et al , 2004 Abstract Observations with VIMOS have been obtained between October 31 and December 6 2002. Observing conditions were photometric with an image quality between 0.6 and 1.2-arcsec FWHM. We have moved the telescope hence the objects along the slits in a sequence of 5 positions with offsets -1.4 -0.7 0 +0.7 +1.4-arcsec from the reference pointing position. This is necessary to compute the fringing pattern produced above 8300{AA} by the thinned EEV CCDs used in VIMOS and remove it during processing.

Redshifts from VIMOS VLT Deep Survey (Le Fevre+ 2004) / Le Fevre O.; Vettolani G.; Paltani S.; Tresse L.; Zamorani G.; Le Brun V.; Moreau C.; Bottini D.; Maccagni D.; Picat J. P.; Scaramella R.; Scodeggio M.; Zanichelli A.; Adami C.; Arnouts S.; Bardelli S.; Bolzonella M.; Cappi A.; Charlot S.; Contini T.; Foucaud S.; Franzetti P.; Garilli B.; Gavignaud I.; Guzzo L.; Ilbert O.; Iovino A.; McCracken H. J.; Mancini D.; Marano B.; Marinoni C.; Mathez G.; Mazure A.; Meneux B.; Merighi R.; Pello R.; Pollo A.; Pozzetti L.; Radovich M.; Zucca E.; Arnaboldi M.; Bondi M.; Bongiorno A.; Busarello G.; Ciliegi P.; Gregorini L.; Mellier Y.; Merluzzi P.; Ripepi V.; Rizzo D.. - ELETTRONICO. - (2006).

Redshifts from VIMOS VLT Deep Survey (Le Fevre+ 2004)

MARANO, BRUNO;BONGIORNO, ANGELA;GREGORINI, LORETTA;
2006

Abstract

Pubblicazione eletrtronica che da accesso ai dati già esposti in Le Fevre et al , 2004 Abstract Observations with VIMOS have been obtained between October 31 and December 6 2002. Observing conditions were photometric with an image quality between 0.6 and 1.2-arcsec FWHM. We have moved the telescope hence the objects along the slits in a sequence of 5 positions with offsets -1.4 -0.7 0 +0.7 +1.4-arcsec from the reference pointing position. This is necessary to compute the fringing pattern produced above 8300{AA} by the thinned EEV CCDs used in VIMOS and remove it during processing.
2006
VizieR On-line Data Catalog
Redshifts from VIMOS VLT Deep Survey (Le Fevre+ 2004) / Le Fevre O.; Vettolani G.; Paltani S.; Tresse L.; Zamorani G.; Le Brun V.; Moreau C.; Bottini D.; Maccagni D.; Picat J. P.; Scaramella R.; Scodeggio M.; Zanichelli A.; Adami C.; Arnouts S.; Bardelli S.; Bolzonella M.; Cappi A.; Charlot S.; Contini T.; Foucaud S.; Franzetti P.; Garilli B.; Gavignaud I.; Guzzo L.; Ilbert O.; Iovino A.; McCracken H. J.; Mancini D.; Marano B.; Marinoni C.; Mathez G.; Mazure A.; Meneux B.; Merighi R.; Pello R.; Pollo A.; Pozzetti L.; Radovich M.; Zucca E.; Arnaboldi M.; Bondi M.; Bongiorno A.; Busarello G.; Ciliegi P.; Gregorini L.; Mellier Y.; Merluzzi P.; Ripepi V.; Rizzo D.. - ELETTRONICO. - (2006).
Le Fevre O.; Vettolani G.; Paltani S.; Tresse L.; Zamorani G.; Le Brun V.; Moreau C.; Bottini D.; Maccagni D.; Picat J. P.; Scaramella R.; Scodeggio M.; Zanichelli A.; Adami C.; Arnouts S.; Bardelli S.; Bolzonella M.; Cappi A.; Charlot S.; Contini T.; Foucaud S.; Franzetti P.; Garilli B.; Gavignaud I.; Guzzo L.; Ilbert O.; Iovino A.; McCracken H. J.; Mancini D.; Marano B.; Marinoni C.; Mathez G.; Mazure A.; Meneux B.; Merighi R.; Pello R.; Pollo A.; Pozzetti L.; Radovich M.; Zucca E.; Arnaboldi M.; Bondi M.; Bongiorno A.; Busarello G.; Ciliegi P.; Gregorini L.; Mellier Y.; Merluzzi P.; Ripepi V.; Rizzo D.
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