Can Clock Faults Be Detected Through Functional Test ? / C. Metra; D. Rossi; M. Omaña; J.M. Cazeaux; TM Mak. - ELETTRONICO. - 1:(2006), pp. 168-173. (Intervento presentato al convegno 9th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS'06) tenutosi a Prague, Czech Republic nel April 18-21, 2006).
Can Clock Faults Be Detected Through Functional Test ?
METRA, CECILIA;ROSSI, DANIELE;OMANA, MARTIN EUGENIO;
2006
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.