Per il caso di miscele acquose contenenti singoli elettroliti, si sviluppa una soluzione rigorosa dell’equazione estesa di Nernst-Planck che descrive il trasporto di elettroliti in membrane da nanofiltrazione nel modello Donnan Steric Pore Model & Dielectric Exclusion, in grado di esprimere in maniera analitica l’andamento dei profili di concentrazione degli ioni all’interno della membrana, caratterizzata attraverso l’uso di parametri aggiustabili (raggio del poro, spessore e densità volumetrica di carica). I parametri introdotti consentono di individuare il ruolo dei fenomeni elettrici e di trasporto sull’efficienza di separazione. L’impiego delle equazioni ottenute permette di evidenziare in maniera chiara e completa gli intervalli di affidabilità di alcune versioni approssimate del modello, precedentemente sviluppate
Trasporto di materia in membrane da Nanofiltrazione: soluzione analitica dell'equazione estesa di Nernst-Planck nel modello DSPM&DE / D.Vezzani; S.Bandini. - STAMPA. - 2:(2004), pp. 1261-1264. (Intervento presentato al convegno Convegno GRICU tenutosi a Porto d'Ischia (NA) nel 12-15 settembre 2004).
Trasporto di materia in membrane da Nanofiltrazione: soluzione analitica dell'equazione estesa di Nernst-Planck nel modello DSPM&DE
VEZZANI, DANIELE;BANDINI, SERENA
2004
Abstract
Per il caso di miscele acquose contenenti singoli elettroliti, si sviluppa una soluzione rigorosa dell’equazione estesa di Nernst-Planck che descrive il trasporto di elettroliti in membrane da nanofiltrazione nel modello Donnan Steric Pore Model & Dielectric Exclusion, in grado di esprimere in maniera analitica l’andamento dei profili di concentrazione degli ioni all’interno della membrana, caratterizzata attraverso l’uso di parametri aggiustabili (raggio del poro, spessore e densità volumetrica di carica). I parametri introdotti consentono di individuare il ruolo dei fenomeni elettrici e di trasporto sull’efficienza di separazione. L’impiego delle equazioni ottenute permette di evidenziare in maniera chiara e completa gli intervalli di affidabilità di alcune versioni approssimate del modello, precedentemente sviluppateI documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.