Development of an analytical mobility model for the simulation of ultra-thin single- and double-gate SOI MOSFETs / ALESSANDRINI M.; ESSENI D.; FIEGNA C.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - STAMPA. - 48:(2004), pp. 589-595. [10.1016/j.sse.2003.09.023]
Development of an analytical mobility model for the simulation of ultra-thin single- and double-gate SOI MOSFETs
ESSENI, DAVID;FIEGNA, CLAUDIO
2004
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