Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems / D. Rossi; A. Muccio; A. K. Nieuwand; A. Katoch; C. Metra. - STAMPA. - (2004), pp. 135-140. (Intervento presentato al convegno 10th IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Madeira, Portugal nel 12-14 luglio 2004).
Impact of ECCs on Simultaneously Switching Output Noise for On-Chip Busses of High Reliability Systems
ROSSI, DANIELE;METRA, CECILIA
2004
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