Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices / M. Rudan; S. Reggiani; E. Gnani; G. Baccarani; C. Corvasce; D. Barlini; M. Ciappa; W. Fichtner; M. Denison; N. Jensen; G. Groos; M. Stecher. - STAMPA. - (2005). (Intervento presentato al convegno European Solid-State Device Research Conference tenutosi a Grenoble nel 13-15 Settembre 2005).

Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices

RUDAN, MASSIMO;REGGIANI, SUSANNA;GNANI, ELENA;BACCARANI, GIORGIO;
2005

2005
Proceedings of ESSDERC 2005
Experimental validation of a new analytical model for the position-dependent Hall voltage in semiconductor devices / M. Rudan; S. Reggiani; E. Gnani; G. Baccarani; C. Corvasce; D. Barlini; M. Ciappa; W. Fichtner; M. Denison; N. Jensen; G. Groos; M. Stecher. - STAMPA. - (2005). (Intervento presentato al convegno European Solid-State Device Research Conference tenutosi a Grenoble nel 13-15 Settembre 2005).
M. Rudan; S. Reggiani; E. Gnani; G. Baccarani; C. Corvasce; D. Barlini; M. Ciappa; W. Fichtner; M. Denison; N. Jensen; G. Groos; M. Stecher
File in questo prodotto:
Eventuali allegati, non sono esposti

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11585/11107
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact