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Titolo Autore(i) Anno Periodico Editore Tipo File
Wavelet-based Adaptive Mesh Generation for Device Simulation L. De Marchi; F. Franze'; E. Baravelli; N. Speciale 2005-01-01 - ColorPress 4.01 Contributo in Atti di convegno -
3D Mesh Generation with Wavelet-Driven Adaptivity L. De Marchi; E. Baravelli; F. Franze'; N. Speciale 2006-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Wavelet-based adaptive mesh generation for device simulation L. De Marchi; F. Franze'; E. Baravelli; N. Speciale 2006-01-01 SOLID-STATE ELECTRONICS - 1.01 Articolo in rivista -
Automatic wavelet localization and adaptive meshing of physical relevances in device simulation E. Baravelli; L. De Marchi; F. Franze'; N. Speciale 2006-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Impact of LER and Random Dopant Fluctuations on FinFET matching performance E. Baravelli; M. Jurczak; N. Speciale; K. De Meyer; A. Dixit 2007-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Wavelet Adaptivity for 3D Device Simulation L. De Marchi; E. Baravelli; F. Franze; N. Speciale 2007-01-01 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS - 1.01 Articolo in rivista -
Impact of Line-Edge-Roughness on FinFET Matching Performance E. Baravelli; A. Dixit; R. Rooyackers; M. Jurczak; N. Speciale; K. De Meyer 2007-01-01 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - 1.01 Articolo in rivista -
TCAD solutions for increasing dimensionality in solid-state device and process simulations L. De Marchi; E. Baravelli; N. Speciale 2008-01-01 - Nova Science Publishers 2.01 Capitolo / saggio in libro -
TCAD modeling and characterization of short-range variations in Multiple-Gate devices and circuit blocks E. Baravelli; N. Speciale; A. Dixit; M. Jurczak 2008-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Impact of LER and Random Dopant Fluctuations on FinFET matching performance E. Baravelli; M. Jurczak; N. Speciale; K. De Meyer; A. Dixit 2008-01-01 IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY - 1.01 Articolo in rivista -
LER-induced limitations ti VDD scalability of FinFET-based SRAMs with different design options E. Baravelli; L. De Marchi; N. Speciale 2009-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Correlation of fin shape fluctuations to FinFET electrical variability and noise margins of 6-T SRAM cells E. Baravelli; L. De Marchi; M. Jurczak; N. Speciale 2009-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Fin shape fluctuations in FinFET: Correlation to electrical variability and impact on 6-T SRAM noise margins E. Baravelli; L. De Marchi; N. Speciale 2009-01-01 SOLID-STATE ELECTRONICS - 1.01 Articolo in rivista -
Warped frequency transform analysis of ultrasonic guided waves in long bones L. De Marchi; E. Baravelli; K. Xu; D. Ta; N. Speciale; A. Marzani; E. Viola 2010-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Physical insight and Monte Carlo statistical analysis of Work-Function Variability in FinFETs based on 2D slice composition E. Baravelli; L. De Marchi; N. Speciale 2010-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
An improved beamforming technique for increased imaging resolution in GW-based SHM Emanuele Baravelli;Luca De Marchi;Massimo Ruzzene;Philipp Schatzer;Nicolo Speciale 2010-01-01 - - 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Warped Frequency Transform for Damage Detection using Lamb Waves L. De Marchi; M. Ruzzene; B. Xu; E. Baravelli; A. Marzani; N. Speciale 2010-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Warped basis pursuit for damage detection using lamb waves L. De Marchi; M. Ruzzene; B. Xu; E. Baravelli; N. Speciale 2010-01-01 IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL - 1.01 Articolo in rivista -
Warped-wigner-hough transformation of lamb waves for automatic defect detection A. Perelli; L. De Marchi; E. Baravelli; A. Marzani; N. Speciale 2011-01-01 - IEEE UFFC Society 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Guided waves filtering with Warped Curvelets L. De Marchi; E. Baravelli; M. Ruzzene; N. Speciale 2011-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
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