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Measurement and simulation of gate voltage dependence of RTS emission and capture time constants in MOSFETs N. Zanolla; D. Siprak; P. Baumgartner; E. Sangiorgi; C. Fiegna 2008-01-01 - IEEE 4.01 Contributo in Atti di convegno -
The impact of substrate bias on RTS and flicker noise in MOSFETs operating under switched gate bias N. Zanolla; D. Siprak; M. Tiebout; P. Baumgartner; E. Sangiorgi; C. Fiegna. 2008-01-01 - IEEE 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Reduction of Low-Frequency Noise in MOSFETs Under Switched Gate and Substrate Bias D.j Siprak; N. Zanolla; M. Tiebout; P. Baumgartner; C. Fiegna 2008-01-01 - s.n 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Noise Reduction in CMOS Circuits Through Switched Gate and Forward Substrate Bias D. Siprak; .M. Tiebout; N. Zanolla; P. Baumgartner; C. Fiegna 2009-01-01 IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS - 1.01 Articolo in rivista -
Suppression of Random Telegraph Signal Noise in small-area MOSFETs under switched gate and substrate bias conditions N. Zanolla; D. Siprak; M. Tiebout; P. Baumgartner; E. Sangiorgi; C. Fiegna 2009-01-01 - American Institute of Physics 4.01 Contributo in Atti di convegno -
Reduction of RTS Noise in Small-Area MOSFETs Under Switched Bias Conditions and Forward Substrate Bias N. Zanolla; D . Šiprak; M. Tiebout; P. Baumgartner; E. Sangiorgi; C. Fiegna 2010-01-01 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES - 1.01 Articolo in rivista -
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