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Titolo Autore(i) Anno Periodico Editore Tipo File
Effects of beam-specimen interaction on the observation of reverse-biased junction P. F. Fazzini; P. G. Merli; G.Pozzi; F. Ubaldi 2005-01-01 PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS - 1.01 Articolo in rivista -
Influence of the dopant profile on the phase contrast images of reverse biased p-n junctions P. F. Fazzini; G. Pozzi; F. Ubaldi 2005-01-01 - Slovene Society for Microscopy 4.02 Riassunto (Abstract) -
Interference electron microscopy of reverse-biased p-n junctions P. F. Fazzini; P. G. Merli; G. Pozzi; F. Ubaldi 2005-01-01 - Springer 4.02 Riassunto (Abstract) -
Towards three-dimensional field models for reverse biased p-n junctions. P. F. Fazzini; G. Pozzi; F. Ubaldi; M. Beleggia 2006-01-01 - s.n 4.02 Riassunto (Abstract) -
Interference electron microscopy of one-dimensional electron-optical phase objects. P. F. Fazzini; L. Ortolani; G. Pozzi; F. Ubaldi 2006-01-01 ULTRAMICROSCOPY - 1.01 Articolo in rivista -
Three-dimensional field models for reverse-biased p-n junctions. F. Ubaldi; G. Pozzi; P.F. Fazzini; M. Beleggia 2008-01-01 - Springer 4.02 Riassunto (Abstract) -
Interpretation of electron beam induced charging of oxide layers in a transistor studied using electron holography Ubaldi F.; Pozzi G.; Kasama T.; McCartney M.R.; Newcomb S.B.; Dunin-Borkowski R.E. 2010-01-01 - IOP Publishing 4.01 Contributo in Atti di convegno -
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