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Modelling nanoscale n-MOSFETs with III-V compound semiconductor channels: From advanced models for band structures, electrostatics and transport to TCAD
2017 Selmi, L.; Caruso, E.; Carapezzi, S.; Visciarelli, M.; Gnani, E.; Zagni, N.; Pavan, P.; Palestri, P.; Esseni, D.; Gnudi, A.; Reggiani, S.; Puglisi, F.M.; Verzellesi, G.
Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications
2019 Di Mauro, Alfio; Conti, Francesco; Schiavone, Pasquale Davide; Rossi, Davide; Benini, Luca
Titolo | Autore(i) | Anno | Periodico | Editore | Tipo | File |
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Modelling nanoscale n-MOSFETs with III-V compound semiconductor channels: From advanced models for band structures, electrostatics and transport to TCAD | Selmi, L.; Caruso, E.; Carapezzi, S.; Visciarelli, M.; Gnani, E.; Zagni, N.; Pavan, P.; Palestri,... P.; Esseni, D.; Gnudi, A.; Reggiani, S.; Puglisi, F.M.; Verzellesi, G. | 2017-01-01 | - | Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - |
Pushing On-chip Memories Beyond Reliability Boundaries in Micropower Machine Learning Applications | Di Mauro, Alfio; Conti, Francesco; Schiavone, Pasquale Davide; Rossi, Davide; Benini, Luca | 2019-01-01 | - | - | 4.01 Contributo in Atti di convegno | - |
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